本次大会推出DAC-ATS  2023联合注册方式，在参加CCFDAC 2023的同时也可以参加ATS 2023，以下为ATS 2023相关介绍：

2023年10月14日至10月17日在北京市举办“ 第32届IEEE亚洲测试学术会议”（英文名称：The IEEE 32nd Asian Test Symposium，简称：ATS 2023），会期4天。

本次会议由IEEE计算机协会（IEEE Computer Society）、IEEE电子设计自动化委员会（IEEE Council on Electronic Design Automation）和中国科学院计算技术研究所联合主办，由中国科学院计算技术研究所的李华伟研究员出任大会主席，由中国科学院计算技术研究所的叶靖副研究员和西北工业大学的胡伟教授担任程序委员会主席。程序委员会成员主要由该领域的国内外专家组成（由美国、欧洲各国、日本、中国、印度等国家和地区的专家构成）。

会议主题：集成电路测试技术。

会议议题：系统芯片测试、CPU/GPU测试、可重构系统测试、物联网测试、汽车电子测试与功能安全、量子芯片测试、机器学习系统测试与可靠性、可测试性设计、测试生成、内建自测试、测试仪设计、硬件安全、时延测试、良率分析与学习、可靠性和可恢复性、容错与差错容忍、测试压缩、测试标准、故障诊断与失效分析等诸多方面。

如果您需要联合注册，请查看以下链接：

https://ats2023.scimeeting.cn/en/web/index/

注意：会议邀请函由ATS发出。