第二十届全国容错计算学术会议(CCF CFTC 2023)
  • 登录
  • 注册
  • 欢迎您: hlladmin 退出
报名 团报
分享

微信扫一扫:分享

微信里点“发现”,扫一下

二维码便可将本文分享至朋友圈

  • 首页
  • 会议介绍
  • 会议动态
  • 大会嘉宾
  • 大会日程
  • 会务手册
  • 论文集
  • 邀请函
  • 参会指南
  • 合作单位
  • 组织机构
  • 程序委员会
  • 欢迎您:hlladmin
  • 退出
  • 登录

会议动态

中国计算机学会全国容错计算学术会议(CCF CFTC 2023)第二轮征文通知

时间:2023.04.17

    为了促进我国测试与容错技术领域的学术交流,中国计算机学会容错计算专业委员会决定于2023年7月28日-7月30日在常州市召开第二十届全国容错计算学术会议(CCF CFTC 2023)。会议将通过高质量的前沿技术报告、学术报告、论坛等形式,就容错计算技术的研究进展和发展趋势开展广泛、深入的学术交流。欢迎从事容错计算及相关领域研究工作的产学研各界的专家、学者及学生踊跃投稿。


一、主办与承办单位 

    主办单位:中国计算机学会 

    承办单位:中国计算机学会容错计算专业委员会、南京大学

    协办单位:江苏省软件新技术协同创新中心、水利部水利大数据重点实验室


二、会议时间与地点 

    时间:2023年7月28日-7月30日

    地点:常州市中吴宾馆


三、征文范围(但不限于该范围)

    1. 容错计算   

    1.1 可靠性与安全性度量和评估 

    1.2 高端容错计算系统 

    1.3 可靠性设计 

    1.4 国防、航天等行业容错系统设计应用 

    1.5 容灾与备份 

    1.6 高可靠嵌入式系统  

    1.7 量子计算容错  

    1.8 系统故障预测与诊断 


    2. 集成电路测试

    2.1 故障模拟  

    2.2 故障诊断  

    2.3 可测试性设计  

    2.4 边界扫描  

    2.5 ATPG自动测试向量生成  

    2.6 内建自测试  

    2.7 测试压缩  

    2.8 低功耗测试  

    2.9 先进封装可测性设计  


    3. 软件测试   

    3.1 软件测试设计 

    3.2 软件质量评估  

    3.3 软件测试验证  

    3.4 智能软件测试  

    3.5 软件测试自动化  

    3.6 软件故障模式  

    3.7 软件容错  

    3.8 安全关键软件测试


    4. 硬件安全与可信   

    4.1集成电路安全隐患建模与验证  

    4.2 FPGA安全  

    4.3 硬件木马检测与防护 

    4.4 硬件辅助安全 

    4.5 硬件安全原语(PUF、TRNG等)

    4.6 微体系结构安全  

    4.7 IoT安全  

    4.8 后量子硬件安全  


    5. 集成电路设计与EDA   

    5.1  集成电路设计  

    5.2 高层次、逻辑综合  

    5.3 可制造性设计(DFM)

    5.4 物理设计  

    5.5 领域定制加速器  

    5.6 新型芯片EDA(生物、量子芯片等)  

    5.7 芯粒(Chiplet)集成  


    6. 可信计算   

    6.1 可信计算理论  

    6.2 可信软件 

    6.3 可信芯片  

    6.4 可信系统  

    6.5 可信网络  

    6.6 可信人工智能


    7. 热点领域相关的测试、可靠、安全、可信、辅助设计技术 

    7.1 大数据

    7.2 云计算

    7.3 隐私计算

    7.4 区块链与数字货币

    7.5 人工智能

    7.6 微纳传感器

    7.7 新能源汽车、自动驾驶

    7.8 新能源、电力系统

    7.9 物联网和边缘计算

    7.10 新材料、新器件、新计算模式


    8.容错、可信、测试技术的应用


四、征稿要求

本次会议接受中文或英文稿件,所有投稿论文将接受严格的学术评审。论文录取后需要作者到会作口头报告,否则予以撤稿处理。本次会议将以电子论文集形式供会议交流(无版权)。

投稿论文请用word或pdf,篇幅不限。建议中文稿件参考《电子与信息学报》格式要求,英文稿件参考IEEE格式要求。

经会议程序委员会评审:

①集成电路测试、EDA及硬件安全等领域优秀英文论文可推荐至IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs发表;容错电路及容错系统设计等领域优秀英文论文可推荐至Microelectronics Journal发表

②先进集成电路技术领域论文可直接投稿中文EI期刊《电子与信息学报》“先进集成电路技术”专题,期刊采用快速审稿,录用论文需注册参会并做报告,专题信息:https://mp.weixin.qq.com/s/mdu7sefLaMV0TepMYv5JwQ

③其它领域优秀中文论文推荐至CCF推荐期刊《网络与信息安全学报》及《微电子学与计算机》等期刊


作者收到推荐邮件后仍可选择放弃推荐。特约编辑将综合文章修改和现场报告情况做最终录用决定。期刊论文版面费由作者自行缴纳,会议论文需自行注册参会并做现场报告。


更多专题期刊敬请期待!


五、重要日期

征文截止日期:2023年6月1日 

录用通知日期:2023年7月1日

论文修改稿截止日期:2023年7月5日

投稿地址:

https://conf.ccf.org.cn/cftc2023/paper


有任何疑问,可联系:

张吉良 zhangjiliang@hnu.edu.cn


版权所有:中国计算机学会技术支持邮箱:conf_support@ccf.org.cn

京ICP备13000930号-4 京公网安备 11010802032778号